题目：纳米尺度变形场的定量电子显微分析
摘要：定量电子显微分析属于现代物理、材料和力学的交叉学科，是当前国际研究的前沿课题。固体中微小的晶格变形会显著地改变其物理、化学性能，同时固体中纳米尺度的应力集中也是缺陷萌生、裂纹扩展等影响材料力学性能的关键。因此，精确测量固体中的纳米尺度变形场成为固体物理、材料力学、纳米科学的重要研究内容。通过测量固体原子间的距离，可以获得材料中纳米尺度甚至原子尺度的局域应变和应力集中。电子显微镜已经成为精度最高的纳米尺度测量工具，目前常用的中等电压透射电子显微镜的分辨率可以达到0.1nm，扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm，与先进的电子显微图像分析方法结合可以实现纳米尺度变形场的精确测量。本报告简要介绍使用电子显微镜作为测量工具，对位错与微裂纹尖端的纳米尺度变形场进行定量分析的研究成果。
报告人简介：
姓名 赵春旺 教授
美国哈佛大学（Harvard University）工程与应用科学学院博士后。
教育部新世纪优秀人才。
内蒙古工业大学理学院物理系教授、物理电子学专业硕士生导师、固体力学专业博士生导师。
内蒙古工业大学学术委员会委员。
中国力学学会《实验力学》期刊第七届编委会委员。
研究方向：“纳米结构的表征与分析”和“微纳米实验力学”。使用电子显微镜作为主要研究工具，采用几何相位分析和数值云纹等方法作为主要变形场定量测量方法，在微米、纳米至原子尺度对金、铝、铜、硅、锗、镍钛基形状记忆合金等固体中的位错、晶界、相界、微裂纹等缺陷进行微结构与力学行为的研究。
地点：第一教学楼1C102
时间：2月22日下午2:30
欢迎广大有兴趣的师生前来聆听。